要提取芯片的最外围轮廓,但是轮廓太模糊了。试了使用dyn_threshold,得到的region包含很多毛刺;edge_sub_pixel的效果也不是很好。不知道大家还有什么更好的方案呢?下面是我的方案,只做到阈值处理这一步,感觉效果不好没有再写下去。dev_open_w... 全文

2018-03-05 11:26 来自版块 - 疑难问题讨论交流区

没有找到相关的算子,求高手指点!

2017-10-29 23:32 来自版块 - Halcon算子学习交流区

图像中有多个芯片,需要得到无墨点芯片的位置,而有墨点芯片的位置则不需要提取到使用模板匹配算法,尝试了ncc和shape都会把有墨点芯片识别到。下图中红色框选的为无墨点芯片,上面是有墨点芯片。图像见附件。希望各位网友给出建议

2017-10-11 09:52 来自版块 - 疑难问题讨论交流区

电容的负极标识在图中标出来了,因为微软画图工具把灰度图转成彩色图让颜色变了,原图可以从附件中下载。因为使用的是同轴光,亮度不是很均匀,使用灰度分割然后形态学处理的效果并不好;而因为负极上会有些缺口,所以模板匹配效果也不是很好。希望各位大神给些建议,无论是算法还是打光上的建议,先谢... 全文

2017-09-29 10:47 来自版块 - 疑难问题讨论交流区

电容是柱状的电解电容,使用的线扫相机拍摄得到,软件上控制电机转动一圈,刚好是一圈电容侧面图像。需要检测的缺陷有:凸起,图中较亮的斑点,这个比较好检测,但是依赖打光凹陷,已经圈出来了,这个检测难度较大,因为不太明显划痕,白色区域的划痕可以检测,黑色背景上的划... 全文

2017-07-31 21:06 来自版块 - Halcon图像处理项目方案交流区

UncleDru我获得了“社区居民”勋章。现在有1个勋章啦,赶紧去领勋章,比比谁的多!查看

2017-07-14 21:16 来自勋章


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